Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Wideband Frequency Diagnosis for High-Sensitivity Turn-Insulation Degradation Estimation in Inverter-Fed Machines

Title: Wideband Frequency Diagnosis for High-Sensitivity Turn-Insulation Degradation Estimation in Inverter-Fed Machines
Authors: Sardar, Muhammad Usman; Vaimann, Toomas; Kutt, Lauri; Asad, Bilal; Kallaste, Ants; Raja, Hadi Ashraf
Source: 2025 IEEE Symposium on Diagnostics for Electric Machines, Power Electronics and Drives (SDEMPED) Diagnostics for Electric Machines, Power Electronics and Drives (SDEMPED), 2025 IEEE Symposium on. :1-7 Aug, 2025
Relation: 2025 IEEE Symposium on Diagnostics for Electric Machines, Power Electronics and Drives (SDEMPED)
Database: IEEE Xplore Digital Library