Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Using Style Transfer to Leverage Synthetic Data for Machine Learning-Based Quality Inspection in Forming Processes

Title: Using Style Transfer to Leverage Synthetic Data for Machine Learning-Based Quality Inspection in Forming Processes
Authors: Benfer, Achim; Hujo-Lauer, Dominik; Kruger, Marius; Land, Kathrin; Lechner, Michael; Merklein, Marion; Vogel-Heuser, Birgit
Source: 2025 IEEE 21st International Conference on Automation Science and Engineering (CASE) Automation Science and Engineering (CASE), 2025 IEEE 21st International Conference on. :584-589 Aug, 2025
Relation: 2025 IEEE 21st International Conference on Automation Science and Engineering (CASE)
Database: IEEE Xplore Digital Library