Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Partial Discharge Withstand for Typical PCB Geometries

Title: Partial Discharge Withstand for Typical PCB Geometries
Authors: Schmidt, Paul; Rain, Pascal; Catellani, Stephane
Source: 2025 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP), 2025 IEEE Conference on. :181-184 Sep, 2025
Relation: 2025 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP)
Database: IEEE Xplore Digital Library