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Promoting EMC Adhesion to Copper Leadframe Through Oxide Thickness Optimization

Title: Promoting EMC Adhesion to Copper Leadframe Through Oxide Thickness Optimization
Authors: Feautrier, Celine; Saudet, Benoit; Henry, David; Licitra, Christophe; Gauthier, Nicolas; Haumesser, Paul-Henri; Tan, Ky-Lim; Aytous, Hicham; Morelle, Jean-Michel
Source: 2025 25th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC) Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC), 2025 25th European. :1-5 Sep, 2025
Relation: 2025 25th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC)
Database: IEEE Xplore Digital Library