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Measurements at High Temperature for Thermal Resistance of MOSFETs

Title: Measurements at High Temperature for Thermal Resistance of MOSFETs
Authors: Mitulescu, Corina Ruxandra; Codreanu, Norocel; Ionescu, Ciprian; Svasta, Paul; Branzei, Mihai; Enache, Bianca Laura
Source: 2025 25th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC) Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC), 2025 25th European. :1-7 Sep, 2025
Relation: 2025 25th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC)
Database: IEEE Xplore Digital Library