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Optimizing Ag Paste Thickness for Reliable Power Module Packaging

Title: Optimizing Ag Paste Thickness for Reliable Power Module Packaging
Authors: Liu, Ran; Chen, Chuantong; Liu, Yang; S., Nakayama Koji; Ueshima, Minoru; Masahiko, Nishijima; Suganuma, Katsuaki
Source: 2025 25th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC) Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC), 2025 25th European. :1-6 Sep, 2025
Relation: 2025 25th European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC)
Database: IEEE Xplore Digital Library