Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Novel Semiconductor Opening Switch Test Bed and Characterization

Title: Novel Semiconductor Opening Switch Test Bed and Characterization
Authors: Esser, B.; Spencer, H.; Rawson, M.; Stephens, J. C.; Dickens, J. C.; Neuber, A. A.; Schrock, J. A.; Hoff, B.; Heidger, S.; Mankowski, J. J.
Source: 2025 IEEE Pulsed Power & Plasma Science (PPPS) Pulsed Power & Plasma Science (PPPS), 2025 IEEE. :1-1 Jun, 2025
Relation: 2025 IEEE Pulsed Power & Plasma Science (PPPS)
Database: IEEE Xplore Digital Library