Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Automated Extraction of Quality Concerns from Mobile App Reviews Using Deep Learning

Title: Automated Extraction of Quality Concerns from Mobile App Reviews Using Deep Learning
Authors: Bashir, Nadia; Alam, Khubaib Amjad; Haroon, Muhammad; Cheema, Momina Kamal
Source: 2025 IEEE 36th International Symposium on Software Reliability Engineering Workshops (ISSREW) ISSREW Software Reliability Engineering Workshops (ISSREW), 2025 IEEE 36th International Symposium on. :109-110 Oct, 2025
Relation: 2025 IEEE 36th International Symposium on Software Reliability Engineering Workshops (ISSREW)
Database: IEEE Xplore Digital Library