Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Key Variables in the Reliability of ML Models Exposed to Neutrons, Protons, and Heavy Ions

Title: Key Variables in the Reliability of ML Models Exposed to Neutrons, Protons, and Heavy Ions
Authors: Loureiro Coelho, B.; Saveriano, M.; Tali, M.; Frost, C.; Donetti, M.; Pullia, M.; Verroi, E.; Tommasino, F.; Bounasser, S.; Poivey, C.; Rech, P.
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 73(4):803-812 Apr, 2026
Database: IEEE Xplore Digital Library