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Characterization and Redesign of a Modular 65-nm ASIC for Photon Counting with 20 e− Noise

Title: Characterization and Redesign of a Modular 65-nm ASIC for Photon Counting with 20 e− Noise
Authors: Nassi, L.; Ciavarella-Ciavarella, A.; Carminati, M.; Borghi, G.; Farina, S.; Uslenghi, M.; Fiorini, C.
Source: 2025 32nd IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2025 32nd IEEE International Conference on. :1-4 Nov, 2025
Relation: 2025 32nd IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
Database: IEEE Xplore Digital Library