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Improving Board-Level Reliability of Large BGA Packages via Edgebond Placement

Title: Improving Board-Level Reliability of Large BGA Packages via Edgebond Placement
Authors: Shih, Meng-Kai; Lin, Si-Wei; Ding, Yuan-Hong; Hsieh, Chin-Ju; Chang, Simon
Source: 2025 20th International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT) Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT), 2025 20th International. :86-89 Oct, 2025
Relation: 2025 20th International Microsystems, Packaging, Assembly and Circuits Technology Conference (IMPACT)
Database: IEEE Xplore Digital Library