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Patterns Beyond Labels: Clustering Allergy Diagnoses in Overlapping Clinical Profiles

Title: Patterns Beyond Labels: Clustering Allergy Diagnoses in Overlapping Clinical Profiles
Authors: Szczypka, Maja; Tworek, Paulina; Kahan, Julia; Mikolajczyk, Marek; Lewandowski, Roman; Sousa, Jose
Source: 2025 15th IEEE International Conference on Pattern Recognition Systems (ICPRS) Pattern Recognition Systems (ICPRS), 2025 15th IEEE International Conference on. :1-7 Dec, 2025
Relation: 2025 15th IEEE International Conference on Pattern Recognition Systems (ICPRS)
Database: IEEE Xplore Digital Library