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In-DRAM True Random Number Generation Using Simultaneous Multiple-Row Activation: An Experimental Study of Real DRAM Chips

Title: In-DRAM True Random Number Generation Using Simultaneous Multiple-Row Activation: An Experimental Study of Real DRAM Chips
Authors: Yuksel, Ismail Emir; Olgun, Ataberk; Bostanci, F. Nisa; Canpolat, Oguzhan; Oliveira, Geraldo F.; Sadrosadati, Mohammad; Yaglikci, A. Giray; Mutlu, Onur
Source: 2025 IEEE 43rd International Conference on Computer Design (ICCD) ICCD Computer Design (ICCD), 2025 IEEE 43rd International Conference on. :754-763 Nov, 2025
Relation: 2025 IEEE 43rd International Conference on Computer Design (ICCD)
Database: IEEE Xplore Digital Library