Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Continuous Review and Timely Correction: Enhancing the Resistance to Noisy Labels via Self-Not-True and Class-Wise Distillation

Title: Continuous Review and Timely Correction: Enhancing the Resistance to Noisy Labels via Self-Not-True and Class-Wise Distillation
Authors: Lan, L.; Wang, J.; Wu, X.; Han, B.; Liu, X.
Source: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on. 48(5):5165-5179 May, 2026
Database: IEEE Xplore Digital Library