Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Optimizing Machine Learning Algorithms for Intrusion Detection: Towards Next-Generation Cyber-Security Solutions

Title: Optimizing Machine Learning Algorithms for Intrusion Detection: Towards Next-Generation Cyber-Security Solutions
Authors: Das, P. Rahul; Kumar, T. Sampath; Kalyani, G.
Source: 2025 IEEE 5th International Conference on ICT in Business Industry & Government (ICTBIG) ICT in Business Industry & Government (ICTBIG), 2025 IEEE 5th International Conference on. :1-7 Dec, 2025
Relation: 2025 IEEE 5th International Conference on ICT in Business Industry & Government (ICTBIG)
Database: IEEE Xplore Digital Library