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Effect of RF Substrate Bias on the Switching and Stability of TaOx-Based ReRAM for Analog In-Memory Computing

Title: Effect of RF Substrate Bias on the Switching and Stability of TaOx-Based ReRAM for Analog In-Memory Computing
Authors: Beom, Keonwon; Swain, Smitha S.; Stringer, Evan; Kozicki, Michael N.; Marinella, Matthew J.
Source: 2025 Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS) Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS), 2025. :1-6 Sep, 2025
Relation: 2025 Non-Volatile Memory Technology Symposium (NVMTS)
Database: IEEE Xplore Digital Library