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Ultra-Low-Noise Cryogenic Multilevel Memristors for Sub-100 μV Spin Qubit Biasing

Title: Ultra-Low-Noise Cryogenic Multilevel Memristors for Sub-100 μV Spin Qubit Biasing
Authors: Hua, Erbing; Heemskerk, Stijn; Nitzsche, Nikolaj; Braganca, Wagno; Xun, Hanzhi; Kaichouhi, Ali; Ishihara, Ryoichi
Source: 2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2025 IEEE International. :1-4 Dec, 2025
Relation: 2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
Database: IEEE Xplore Digital Library