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Instance-Optimal Uniformity Testing and Tracking

Title: Instance-Optimal Uniformity Testing and Tracking
Authors: Blanc, Guy; Canonne, Clement L.; Waingarten, Erik
Source: 2025 IEEE 66th Annual Symposium on Foundations of Computer Science (FOCS) FOCS Foundations of Computer Science (FOCS), 2025 IEEE 66th Annual Symposium on. :1351-1365 Dec, 2025
Relation: 2025 IEEE 66th Annual Symposium on Foundations of Computer Science (FOCS)
Database: IEEE Xplore Digital Library