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Temperature Dependence of Avalanche Breakdown in Silicon Detectors

Title: Temperature Dependence of Avalanche Breakdown in Silicon Detectors
Authors: Curras-Rivera, E.; Moll, M.
Source: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 73(3):1411-1417 Mar, 2026
Database: IEEE Xplore Digital Library