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Optical Emission Spectroscopy and Neural Network Regression for Argon Flow Monitoring in PVD Processes

Title: Optical Emission Spectroscopy and Neural Network Regression for Argon Flow Monitoring in PVD Processes
Authors: Chen, Yu-Chieh; Lin, Yi-Cheng; Shih, Jin-Yu; Hsiao, Wen-Tse; Pan, Cheng-Tang
Source: 2025 International Conference on Automation Technology (Automation) Automation Technology (Automation), 2025 International Conference on. :1-4 Nov, 2025
Relation: 2025 International Conference on Automation Technology (Automation)
Database: IEEE Xplore Digital Library