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Investigation of Cu Bonding Wire Lifetime Under Accelerated Temperature Environments

Title: Investigation of Cu Bonding Wire Lifetime Under Accelerated Temperature Environments
Authors: Azuma, Shinya; Araki, Noritoshi; Eto, Motoki; Yamada, Takashi
Source: 2025 IEEE 27th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2025 IEEE 27th. :1-6 Dec, 2025
Relation: 2025 IEEE 27th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
Database: IEEE Xplore Digital Library