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Enhancing Wafer Bonding Strength Via Surface and Dielectric Modification Using Plasma Activation Process

Title: Enhancing Wafer Bonding Strength Via Surface and Dielectric Modification Using Plasma Activation Process
Authors: Park, Jaehyung; Kim, Jihun; Lee, Junghan; Jang, Myeonggon; Min, Junhong; Cho, Sohye; Ji, Hyewon; Park, Jintae; Jang, Joohee; Kim, Sekho; Lim, Dongchan; Lee, Sungho; Lee, Hojin; Lee, Seunghun; Hyun, Sangjin
Source: 2025 IEEE 27th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) Electronics Packaging Technology Conference (EPTC), 2025 IEEE 27th. :1-6 Dec, 2025
Relation: 2025 IEEE 27th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC)
Database: IEEE Xplore Digital Library