Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Do Deeper Layers Explain Better? An LID-Based Study of Transformer Explainability

Title: Do Deeper Layers Explain Better? An LID-Based Study of Transformer Explainability
Authors: Roufas, Nikolaos; Kanavos, Athanasios; Karamitsos, Ioannis; Al-Hussaeni, Khalil; Maragoudakis, Manolis
Source: 2025 IEEE International Conference on Big Data (BigData) Big Data (BigData), 2025 IEEE International Conference on. :6552-6559 Dec, 2025
Relation: 2025 IEEE International Conference on Big Data (BigData)
Database: IEEE Xplore Digital Library