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Systematic Comparison of Artifact Removal Techniques for Reliable Feature Extraction from scTS-Contaminated EMG

Title: Systematic Comparison of Artifact Removal Techniques for Reliable Feature Extraction from scTS-Contaminated EMG
Authors: Li, Vivian; Ravi, Manikandan; Anjaria, Manan P.; Bheemreddy, Akhil R.; Forrest, Gail
Source: 2025 IEEE International Conference on Data Mining Workshops (ICDMW) ICDMW Data Mining Workshops (ICDMW), 2025 IEEE International Conference on. :2962-2966 Nov, 2025
Relation: 2025 IEEE International Conference on Data Mining Workshops (ICDMW)
Database: IEEE Xplore Digital Library