Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

A Fast State Screening Method for Reliability Constrained Economic Dispatch

Title: A Fast State Screening Method for Reliability Constrained Economic Dispatch
Authors: Yu, Mingfeng; Hu, Bo; Shao, Changzheng; Zheng, Dong; Li, Kunheng; Xu, Longxun
Source: 2026 2nd International Conference on Electrical Automation and Artificial Intelligence (ICEAAI) Electrical Automation and Artificial Intelligence (ICEAAI), 2026 2nd International Conference on. :547-852 Jan, 2026
Relation: 2026 2nd International Conference on Electrical Automation and Artificial Intelligence (ICEAAI)
Database: IEEE Xplore Digital Library