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Kaputt: A Large-Scale Dataset for Visual Defect Detection

Title: Kaputt: A Large-Scale Dataset for Visual Defect Detection
Authors: Hofer, Sebastian; Henning, Dorian F.; Amiranashvili, Artemij; Morrison, Douglas; Tzes, Mariliza; Posner, Ingmar; Matvienko, Marc; Rennola, Alessandro; Milan, Anton
Source: 2025 IEEE/CVF International Conference on Computer Vision (ICCV) ICCV Computer Vision (ICCV), 2025 IEEE/CVF International Conference on. :24224-24233 Oct, 2025
Relation: 2025 IEEE/CVF International Conference on Computer Vision (ICCV)
Database: IEEE Xplore Digital Library