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A Static, Soft Error Tolerant TSPC Flip-flop for High Reliability Applications

Title: A Static, Soft Error Tolerant TSPC Flip-flop for High Reliability Applications
Authors: Maheshwari, Y.K.; Sachdev, M.
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 73(5):1949-1958 May, 2026
Database: IEEE Xplore Digital Library