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RISC-V Area-Optimized ASIC Design with a Multi-Height 7nm FinFET Standard Cell Library

Title: RISC-V Area-Optimized ASIC Design with a Multi-Height 7nm FinFET Standard Cell Library
Authors: Lemos, Matheus; Farias, Clayton R.; Butzen, Paulo F.; Azambuja, Jose Rodrigo
Source: 2026 IEEE 17th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS) Circuits and System (LASCAS), 2026 IEEE 17th Latin America Symposium on. :1-5 Feb, 2026
Relation: 2026 IEEE 17th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS)
Database: IEEE Xplore Digital Library