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Characterization of High-k Dielectrics for Active mm-Wave Devices

Title: Characterization of High-k Dielectrics for Active mm-Wave Devices
Authors: Cheng, Fan; Sertel, Kubilay
Source: 2026 106th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG) ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG), 2026 106th. :1-4 Jan, 2026
Relation: 2026 106th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG)
Database: IEEE Xplore Digital Library