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Simulation and measurement framework for bridging QE and PDP in UV–VIS FSI SPADs

Title: Simulation and measurement framework for bridging QE and PDP in UV–VIS FSI SPADs
Authors: Vandwalle, Mathieu; Greve, Anton; Gaebler, Daniel; Skadell, Mirjam; Schmidt, Hannes; Zimmer, Alexander; Kumar, Vinoothini AP Jeya; Ling, Ong Yi
Source: 2026 10th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2026 10th IEEE. :1-3 Mar, 2026
Relation: 2026 10th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
Database: IEEE Xplore Digital Library