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Lifetime Model for $p$-Contact Induced Failures in Monolithic GaAs-on-Si Nano-Ridge Lasers Considering Junction Heating

Title: Lifetime Model for $p$-Contact Induced Failures in Monolithic GaAs-on-Si Nano-Ridge Lasers Considering Junction Heating
Authors: Hsieh, Ping-Yi; Coenen, David; O'Sullivan, Barry; Tsiara, Artemisia; Panda, Debi P.; Sharma, Anjanashree M. R.; Yudistira, Didit; Kunert, Bernardette; Van Campenhout, Joris; De Wolf, Ingrid
Source: 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2026 IEEE International. :1-8 Mar, 2026
Relation: 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Database: IEEE Xplore Digital Library