Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Rowhammer Vulnerabilities in 3D NAND Flash: Attack Characterization and Mitigation Strategies

Title: Rowhammer Vulnerabilities in 3D NAND Flash: Attack Characterization and Mitigation Strategies
Authors: Buddhanoy, Matchima; Rahman, Habib Ur; Ray, Biswajit
Source: 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2026 IEEE International. :1-6 Mar, 2026
Relation: 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Database: IEEE Xplore Digital Library