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Robust and Reliable, Radiation-Hardened Digital Logic based Dynamic Voltage Comparator

Title: Robust and Reliable, Radiation-Hardened Digital Logic based Dynamic Voltage Comparator
Authors: Tripathi, Kartikay Mani; Sarma, Nilotpal; Singh, Narendra; Yadav, Ashutosh; Pathak, Madhav; Ramakrishnan, Venkatraman; Manhas, Sanjeev; Bulusu, Anand
Source: 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2026 IEEE International. :1-6 Mar, 2026
Relation: 2026 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Database: IEEE Xplore Digital Library