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Validation of Supply Chains AI/ML Model with Synthetic Data for Embedded Semiconductors

Title: Validation of Supply Chains AI/ML Model with Synthetic Data for Embedded Semiconductors
Authors: Gunn, Matthew C.; Loose, Davis C.; Gunn, Megan E.; Marcellin, Megan C.; Moghadasi, Negin; Polmateer, Thomas L.; Collier, Zachary A.; Linkov, Igor; Lambert, James H.
Source: 2026 IEEE International Systems Conference (SysCon) Systems Conference (SysCon), 2026 IEEE International. :1-8 Apr, 2026
Relation: 2026 IEEE International Systems Conference (SysCon)
Database: IEEE Xplore Digital Library