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First Demonstration of an NVSRAM-Based PUF with Ultra-Low BER through Minimal Redundancy ECC

Title: First Demonstration of an NVSRAM-Based PUF with Ultra-Low BER through Minimal Redundancy ECC
Authors: Zhang, J.; Liang, Y.; Zhao, M.; Li, X.; Liu, K.; Su, Y.; Li, N.; Sun, H.; Zhang, Y.; Ma, X.; Wang, K.; Ding, S.; Yao, P.; Pan, S.; Tang, J.; Gao, B.; Wu, D.; Zhang, Z.; Chen, L.; Qian, H.; Pan, L.; Wu, H.
Source: 2026 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2026 IEEE. :1-4 Apr, 2026
Relation: 2026 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
Database: IEEE Xplore Digital Library