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Analysis of Analog and RF Parameter Variations in JLTFETs Due to Different Work Functions

Title: Analysis of Analog and RF Parameter Variations in JLTFETs Due to Different Work Functions
Authors: Kumar, Kaushal; Vardhan Reddy, Challa Harsha; Jain, Aditya; Kumar, Vinay; Kumar, Ajay; Mohanty, Sribidhya
Source: 2026 International Conference on Intelligent Computing and Automation for Sustainable Solutions (ICASS) Intelligent Computing and Automation for Sustainable Solutions (ICASS), 2026 International Conference on. :1-5 Feb, 2026
Relation: 2026 International Conference on Intelligent Computing and Automation for Sustainable Solutions (ICASS)
Database: IEEE Xplore Digital Library