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On Uncertainty-Aware ML-Based Systems: a Metrology Perspective

Title: On Uncertainty-Aware ML-Based Systems: a Metrology Perspective
Authors: Gao, Songqun; Del Prete, Andrea; Fontanelli, Daniele; Petri, Dario
Source: 2026 IEEE International Symposium on Artificial Intelligence for Instrumentation and Measurement (AI4IM) Artificial Intelligence for Instrumentation and Measurement (AI4IM), 2026 IEEE International Symposium on. :1-6 May, 2026
Relation: 2026 IEEE International Symposium on Artificial Intelligence for Instrumentation and Measurement (AI4IM)
Database: IEEE Xplore Digital Library