Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

On the Reliability of Targeted Unlearning in 4-Bit Quantized LLMs

Title: On the Reliability of Targeted Unlearning in 4-Bit Quantized LLMs
Authors: Ali, Syed Ahsan
Source: 2026 56th Annual IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W) DSN-W Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W), 2026 56th Annual IEEE International Conference on. :86-90 Jun, 2026
Relation: 2026 56th Annual IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks Workshops (DSN-W)
Database: IEEE Xplore Digital Library