Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

TCAD modeling and experimental investigation of indium for advanced CMOS technology

Title: TCAD modeling and experimental investigation of indium for advanced CMOS technology
Authors: Graoui, H.; Al-Bayati, A.; Erlebach, A.; Zechner, C.; Benistant, F.; Allen, A.; Banks, P.; Murrell, A.
Source: Ion Implantation Technology. 2002. Proceedings of the 14th International Conference on Ion implantation technology proceedings Ion Implantation Technology. 2002. Proceedings of the 14th International Conference on. :126-130 2002
Relation: Proceedings of the 2002 14th International Conference on Ion Implantation Technology
Database: IEEE Xplore Digital Library