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Analysis of SiGe HBT Characteristic Times

Title: Analysis of SiGe HBT Characteristic Times
Authors: Aniel, F.; Zerounian, N.; Gruhle, A.; Mahner, C.; Crozat, P.; Adde, R.
Source: 28th European Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 1998. Proceeding of the 28th European. :264-267 1998
Relation: 28th European Solid-State Device Research Conference
Database: IEEE Xplore Digital Library