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CAD-based net capacitance testing of unpopulated MCM substrates

Title: CAD-based net capacitance testing of unpopulated MCM substrates
Authors: Marshall, J.; Chong, F.C.; Modlin, D.; Westbrook, S.
Source: IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology: Part B IEEE Trans. Comp., Packag., Manufact. Technol. B Components, Packaging, and Manufacturing Technology, Part B: Advanced Packaging, IEEE Transactions on. 17(1):50-55 Feb, 1994
Database: IEEE Xplore Digital Library