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Accurate Log-Likelihood Ratio Estimation by using Test Statistical Model for Speaker Verification

Title: Accurate Log-Likelihood Ratio Estimation by using Test Statistical Model for Speaker Verification
Authors: Matrouf, D.; Bonastre, J.-F.
Source: 2006 IEEE Odyssey - The Speaker and Language Recognition Workshop Speaker and Language Recognition Workshop, 2006. IEEE Odyssey 2006: The. :1-5 Jun, 2006
Relation: 2006 IEEE Odyssey - The Speaker and Language Recognition Workshop
Database: IEEE Xplore Digital Library