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A unified model for integrated resistors in CMOS technologies

Title: A unified model for integrated resistors in CMOS technologies
Authors: Aureli, I.; Ventrice, D.; Codegoni, C.; Fantini, P.
Source: 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures, 2007. ICMTS '07. IEEE International Conference on. :268-271 Mar, 2007
Relation: 2007 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
Database: IEEE Xplore Digital Library