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A comparison of 63 MeV proton and 10 keV X-ray radiation effects in 4H-SiC depletion-mode vertical trench JFETs

Title: A comparison of 63 MeV proton and 10 keV X-ray radiation effects in 4H-SiC depletion-mode vertical trench JFETs
Authors: Jun, Bongim; Merrett, Neil; Phillips, Stan; Sutton, Akil K.; Cressler, John D.; Williams, John; Ahyi, Claude; Marshall, Paul W.
Source: 2007 International Semiconductor Device Research Symposium Semiconductor Device Research Symposium, 2007 International. :1-2 Dec, 2007
Relation: 2007 International Semiconductor Device Research Symposium
Database: IEEE Xplore Digital Library