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Thermal characterisation of vertical multichip modules MCM-V

Title: Thermal characterisation of vertical multichip modules MCM-V
Authors: Cahill, C.; Compagno, T.; O'Donovan, J.; Slattery, O.; O'Mathuna, C.; Barrett, J.; Drouhin, I.; Val, C.; Tigneres, J.P.; Stern, J.; Ivey, P.; Masgrangeas, M.; Coello-Vera, A.
Source: Proceedings of 1995 IEEE/CPMT 11th Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM) Semiconductor thermal measurement and management Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 1995. SEMI-THERM XI., Eleventh Annual IEEE. :10-16 1995
Relation: Proceedings of 1995 IEEE/CPMT 11th Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (SEMI-THERM)
Database: IEEE Xplore Digital Library