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Wafer-level glass capping with optical integration

Title: Wafer-level glass capping with optical integration
Authors: Hansen, U.; Maus, S.; Leib, J.; Toepper, M.
Source: 2010 Symposium on Design Test Integration and Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP) Design Test Integration and Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP), 2010 Symposium on. :237-241 May, 2010
Relation: 2010 Symposium on Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS (DTIP)
Database: IEEE Xplore Digital Library