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An industry-driven laboratory development for mixed-signal IC test education

Title: An industry-driven laboratory development for mixed-signal IC test education
Authors: Hu, John; Haffner, Mark; Yoder, Samantha; Reehal, Gursharan; Scott, Mark; Ismail, Mohammed
Source: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) Circuits and Systems (ISCAS), 2010 IEEE International Symposium on. :85-88 May, 2010
Relation: 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
Database: IEEE Xplore Digital Library