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Impact of hump effect on MOSFET mismatch in the sub-threshold area for low power analog applications

Title: Impact of hump effect on MOSFET mismatch in the sub-threshold area for low power analog applications
Authors: Joly, Yohan; Lopez, Laurent; Portal, Jean-Michel; Aziza, Hassen; Bert, Yannick; Julien, Franck; Fornara, Pascal
Source: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2010 10th IEEE International Conference on. :1817-1819 Nov, 2010
Relation: 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT)
Database: IEEE Xplore Digital Library