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Comparative analysis of flip-flop designs for soft errors at advanced technology nodes

Title: Comparative analysis of flip-flop designs for soft errors at advanced technology nodes
Authors: Bhuva, B. L.; Lilja, K.; Holts, J.; Wen, S.-J.; Wong, R.; Jagannathan, S.; Loveless, T. D.; McCurdy, M.; Diggins, Z. J.
Source: 2011 IEEE International Conference on IC Design & Technology IC Design & Technology (ICICDT), 2011 IEEE International Conference on. :1-4 May, 2011
Relation: 2011 IEEE International Conference on IC Design & Technology (ICICDT)
Database: IEEE Xplore Digital Library