Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

TED of boron in presence of EOR defects: the role of the evolution of Si self-interstitial supersaturation between the loops

Title: TED of boron in presence of EOR defects: the role of the evolution of Si self-interstitial supersaturation between the loops
Authors: Bonafos, C.; de Mauduit, B.; Omri, M.; BenAssayag, G.; Claverie, A.; Alquier, D.; Martinez, A.; Mathiot, D.
Source: Proceedings of 11th International Conference on Ion Implantation Technology Ion implantation technology Ion Implantation Technology. Proceedings of the 11th International Conference on. :622-625 1996
Relation: Proceedings of 11th International Conference on Ion Implantation Technology
Database: IEEE Xplore Digital Library